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KEC法电界/磁界屏蔽测试夹具
DR-KECM磁界屏蔽测试装置
- 型号:DR-KECM
- DR-KECM磁界屏蔽效能测量装置用于电磁屏蔽材料在10kHz~1GHz频段内的近场磁场屏蔽性能测量。依据KEC(日本关西电子工业振兴中心)规定的近场磁场测量原理设计,可实现10kHz~1GHz频段下被测材料的近场磁屏蔽性能测量。装置内部的微型磁场发射探头传输芯线镀金处理,试样加载采用内外侧双重旋钮式紧固方式,可保证试样加载方便快捷,实现快速测量。
- 产品介绍
DR-KECM磁界屏蔽效能测量装置用于电磁屏蔽材料在10kHz~1GHz频段内的近场磁场屏蔽性能测量。依据KEC(日本关西电子工业振兴中心)规定的近场磁场测量原理设计,可实现10kHz~1GHz频段下被测材料的近场磁屏蔽性能测量。装置内部的微型磁场发射探头传输芯线镀金处理,试样加载采用内外侧双重旋钮式紧固方式,可保证试样加载方便快捷,实现快速测量。
n 适用于包括但不限于各类电磁屏蔽材料的测量:如各类金属薄板、金属丝网、屏蔽织物、金属箔(铜箔、铝箔等)、导电薄膜等。
详细资料请致电4006262701或添加微信(13366887906)索取!
主要参数 | 说明 |
频率范围 | 10kHz~1GHz |
插损(IL) | 见典型插入损耗值 |
动态范围 | ≥50dB(&1MHz)(最大动态取决于测试设备,低频建议使用信号放大器) |
样品尺寸 | 不小于70mm×70mm |
样品厚度 | ≤5mm |
外形尺寸 | 320mm×320mm×350mm(长×宽×高) |
接头类型 | N型(母) |
重量 | 9kg |
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