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KEC法电界/磁界屏蔽测试夹具
DR-KECE电界屏蔽测试装置
- 型号：DR-KECE
- DR-KECE电界屏蔽效能测量装置用于电磁屏蔽材料在10kHz~1GHz频段内的近场电场屏蔽性能测量。依据KEC（日本关西电子工业振兴中心）规定的近场电场测量原理设计，可实现100kHz~1GHz频段下被测材料的近场电屏蔽性能测量。装置内部的传输芯线镀金处理，试样加载采用内外侧双重旋钮式紧固方式，可保证试样加载方便快捷，实现快速测量。
- 产品介绍
DR-KECE电界屏蔽效能测量装置用于电磁屏蔽材料在10kHz~1GHz频段内的近场电场屏蔽性能测量。依据KEC（日本关西电子工业振兴中心）规定的近场电场测量原理设计，可实现100kHz~1GHz频段下被测材料的近场电屏蔽性能测量。装置内部的传输芯线镀金处理，试样加载采用内外侧双重旋钮式紧固方式，可保证试样加载方便快捷，实现快速测量。
n 适用于包括但不限于各类电磁屏蔽材料的测量：如各类金属薄板、金属丝网、屏蔽织物、金属箔（铜箔、铝箔等）、导电薄膜等。
详细资料请致电4006262701或添加微信（13366887906）索取！
| 主要参数 | 说明 |
| 频率范围 | 10kHz～1GHz |
| 插损（IL） | 见典型插入损耗值 |
| 动态范围 | ≥60dB（&1MHz）（最大动态取决于测试设备，低频建议使用信号放大器） |
| 样品尺寸 | 不小于110mm×120mm |
| 样品厚度 | ≤6mm |
| 外形尺寸 | 320mm×320mm×350mm（长×宽×高） |
| 接头类型 | N型（母） |
| 重量 | 9kg |
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