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电磁屏蔽测试系统
DR-S04A微同轴SE测试系统
- 型号：DR-S04A
- DR-S04A微同轴SE测试系统
- 产品介绍
DR-S04A微同轴SE测试系统原理可视作ASTM4935标准的高频延伸，可实现1GHz~18GHz频段的高频同轴法测试（视被测材料厚度，薄膜类材料起始频率可扩展至MHz），微同轴试样尺寸仅需1~2cm直径的圆片，适合用来对小片试样的屏蔽效能评估测试。
详细信息可致电4006262701或添加微信13366887906咨询！
| 主要参数 | 说明 |
| 频率范围 | 1GHz～18GHz，（可在10MHz～18GHz内使用） |
| 电压驻波比（VSWR） | ＜1.2 |
| 插入损耗（IL） | ＜1dB |
| 外形尺寸 | 260mm×160×200mm（H×W×D） |
| 试样厚度（典型） | ＜1mm 【以不大于最高测试频率1%波长为推荐厚度】 |
| 接口 | SMA（F） |
| 重量 | 2kg |
详细信息可致电4006262701或添加微信13366887906咨询！